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MÉTROLOGIE

Pôle de métrologie constitué de lignes de lumière utilisant le rayonnement synchrotron (métrologie dite à la longueur d’onde) en collaboration avec le Laboratoire National d’Essais (LNE) et le CEA DIF.

Ce projet a pour objet de créer sur le synchrotron SOLEIL, un pôle de métrologie constitué de lignes de lumière utilisant le rayonnement synchrotron (métrologie dite à la longueur d’onde) en collaboration avec le Laboratoire National d’Essais (LNE) et le CEA DIF. Les lignes de lumière permettent de mesurer la réflectivité de surfaces optiques, l’efficacité de diffraction de réseaux, la diffusion des surfaces et l’efficacité des détecteurs X et X-UV.

Avec ce dispositif, le LNE se dotera d'un outil d'étalonnage commun à la gamme des photons UV et des photons X. Un intérêt majeur de ce projet est la constitution d'une source primaire de rayonnement X-UV : la ligne de métrologie pourra fonctionner comme source étalon, avec un flux spectral calculable et devenir ainsi la référence nationale pour ces rayonnements photoniques. Pour le CEA DIF, l’utilisation de la ligne de métrologie est très importante pour la caractérisation de tous les diagnostics de la LIL et du futur laser Mégajoule

La ligne de lumière sera équipée de plusieurs stations permettant de mesurer, dans la plus grande partie du spectre couvert par le synchrotron, les paramètres photométriques qui caractérisent les éléments optiques, tels que : la réflectivité de surfaces, l’efficacité de diffraction des réseaux, la diffusion des surfaces ou l’efficacité des détecteurs X et X-UV et la calibration absolue. Cette installation pourra servir également à développer des instruments et des diagnostics nécessaires à la caractérisation des faisceaux de rayons X (intensité, taille, degré de cohérence, polarisation etc.).

Données techniques

Gamme en énergie

30 eV – 40 keV (monochromatique) avec accès au faisceau blanc

Deux branches fonctionnant en simultanée

Source

Aimant de courbure D05-1°

Polarisation

linéaire

Optique

Monochromateur VLS Branche XUV (30 eV – 1.8 keV)

Monochromateur 2-cristaux à sortie fixe (Si 111 + Réseau Multicouche) Branche X durs

Détection

Diodes Si

Instrument

Goniomètre deux axes sous vide

Table optique pour la branche X durs

Thématiques scientifiques

Major disciplines

‐ Analysis of the photometric parameters of optical components: surface reflectivity  ‐  grating and multilayer diffraction efficiency ‐ filter transmission.

‐ Detectors characterization and calibration: photosensitive devices ‐ scintillators – optical relays.

‐ Development of optics and diagnostics for X‐ray beam spatial and spectral settings.

‐ Wavefront sensing (Hartmann and Interferometry), Adaptive X‐ray Optics, X‐ray phase metrology and X‐ray phase imaging.

‐ Primary X‐ray source as calibration standard ‐ Measurement of Material optical constants (LNE).

‐ Characterization of X‐ray and Plasma Diagnostics to be implemented on the future MegaJoule Laser (CEA‐DAM).

‐ Deep X‐ray Photolithography (LIGA).

The objectives of this project is to design and install at the SOLEIL synchrotron radiation source a metrology test facility for the R&D of optical components and detectors and to develop new instrumentation.

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