
Le Synchrotron SOLEIL et la Société Française du Vide sont heureux de proposer la quatrième édition de cette formation. Les trois précédentes ont en effet été couronnées de succès, avec la participation d’étudiants, de jeunes chercheurs et de cadres du milieu académiques, ainsi que de centres d’innovation d'entreprises.
Objectif
Dans un contexte d’évolution technologique, les méthodes avancées de caractérisation et d’analyse utilisant le rayonnement synchrotron sont devenues indispensables pour recueillir les informations structurales, chimiques, mécaniques, électroniques et magnétiques à l’échelle atomique et moléculaire des produits et des matériaux à forte valeur ajoutée.
Cette formation, destinée à un public très varié, vise à procurer non seulement l’information indispensable pour accéder aux centres de rayonnement synchrotron, mais également elle souhaite apporter les connaissances nécessaires à l’utilisation des principales techniques disponibles dans ces installations. Le cours fournit également aux participants une compréhension claire des critères qui déterminent une sélection efficace des méthodes d’analyse.
► Plus d'informations sur le site de la Société Française du Vide.
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Public concerné
- Techniciens supérieurs, ingénieurs, cadres, chercheurs et thésards du milieu industriel et académique.
- Laboratoires, R&D, production, contrôle, support technique
- Secteurs de la caractérisation de matériaux fonctionnels, matériaux traditionnels, nanomatériaux, corrosion et vieillissement, plastiques et composites, traitements des surface, préparation de surfaces et adhésion, traitement de métaux et alliages.
Programme
- Présentation comparative des différentes techniques disponibles dans les centres de rayonnement synchrotron et des méthodes de caractérisation des laboratoires conventionnels
- Préparation et manipulation des échantillons sous vide, bombardement d'ions, recuit, évaporation, dosage, etc.
- Étude spectroscopique par absorption de Rayons X (XAS, X-ray Absorption Spectrosocpy) de divers matériaux : semi-conducteurs, isolants et métalliques. Analyse élémentaire et chimique (calibration, incertitudes et assignation des spectres)
- Analyse spectroscopique par photoémission d’électrons (PES, Photo-electron Emission Spectroscopy) de matériaux de complexité variable (semi-conducteurs; oxydes et métaux)
- Imagerie de matériaux à différentes échelles, du nanomètre jusqu’au millimètre, en utilisant le contraste d’absorption des Rayons X
- Étude de diffraction pour la détermination de l’ordre local de divers matériaux
- Acquisition et traitement de données directement sur une ligne de lumière du Synchrotron SOLEIL
Prix de la formation
Adhérent de la SFV : 475 €
Non adhérent de la SFV : 575 €
Inscription
Merci de remplir la fiche d’inscription et l’envoyer à l’attention de Mme Christine LEMOINE par fax ou email de la Société Française du Vide (SFV) :
SFV - 19 rue du Renard - 75004 Paris
Tél. : +33 (0)1 53 01 90 34 - Fax : +33 (0)1 42 78 63 20
Accéder à SOLEIL
Adresse :
Société civile Synchrotron SOLEIL
L'Orme des Merisiers
Saint-Aubin - BP 48
91192 GIF-sur-YVETTE CEDEX
Coordonnées GPS :
Latitude : 48.7128003
Longitude : 2.1479529
Sur la D128, à l'Orme des Merisiers